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質(zhì)量方針
致能始終致力于將GaN做成主要的功率半導(dǎo)體
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致能始終致力于將GaN做成主要的功率半導(dǎo)體

我們堅(jiān)持以服務(wù)客戶為導(dǎo)向，持續(xù)改進(jìn)產(chǎn)品和過程質(zhì)量，向客戶交付高可靠的GaN功率器件。

我們追求高質(zhì)量發(fā)展，不以犧牲安全和環(huán)境為代價，堅(jiān)持事前預(yù)防的思想，確保相關(guān)方的職業(yè)健康和生命財(cái)產(chǎn)安全，注重生態(tài)環(huán)境保護(hù)和可持續(xù)發(fā)展，確保公司安全、穩(wěn)定和持續(xù)營運(yùn)。

質(zhì)量體系
致能擁有完善的質(zhì)量管理體系
藍(lán)色科技新生態(tài)創(chuàng)新生態(tài)大會全屏海報(1)
通過ISO 9001:2015
認(rèn)證的管理體系
產(chǎn)品可靠性
致能擁有完善的器件可靠性測試能力


序號試驗(yàn)項(xiàng)目試驗(yàn)條件數(shù)量
判定
1MSL3

1.125℃@24Hrs;

2.30℃ 60%RH@192Hrs(or 60℃ 60%RH@40Hrs)；

3.260℃@3 times

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0失效&符合分層要求

2溫度循環(huán)（TC）

-55℃ to 150℃@500cycle

3x77ea

0失效


3

間歇壽命試驗(yàn)（IOL）

△Tj≥100℃, ton/toff=2min @15000Cycles

3x77ea

0失效

4無偏高速老化試驗(yàn)（uHAST）

130℃ 85%RH@96 Hrs

3x77ea

0失效

5

高速老化試驗(yàn)（HAST）

130℃85%RH, Vds=100V@96Hrs

3x77ea

0失效

6高溫高濕穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)（H3TRB）

85℃85%RH, Vds=80% x ratedVds@1000Hrs

3x77ea

0失效

7

可焊性測試（Solderability）

Steam aging 93C@8h 

Test temperature: 245 +/- 5℃

3x10ea


≥95% solder coating


8高溫反偏（HTRB）Cascode: 150℃, Vds=80% x ratedVds@1000Hrs

3x77ea

0失效

9高溫門閘反偏（HTGB）

Cascode: 150℃, Vgs=+20V@1000Hrs

3x77ea

0失效

10高溫門閘反偏（HTGB）

HEMT: 150℃ Vgs= -35V & Vds=0 @1000Hrs

3x77ea

0失效

11

高溫貯存壽命（HTSL）

150℃ @1000 Hrs

3x77ea

0失效

12低溫貯存壽命（LTSL）

-55℃ @1000Hr

3x77e

0失效

13ESD-HBM按照產(chǎn)品要求

1x3ea

0失效

14

ESD-CDM

按照產(chǎn)品要求

1x3ea

0失效
15開關(guān)加速壽命試驗(yàn)（SALT）Boost: Tc=120℃,Vds=500V,f=20KHz,Duty=1%@168H

1x10ea

0失效&dRdson符合要求

16動態(tài)高溫工作壽命試驗(yàn)（DHTOL）

根據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用場景調(diào)整測試條件

如Full-bridge: DCM,Tc=120℃,Vds=600V,f=100KHZ,Duty=10%@1000H

1x40ea

0失效